XPS-Analytik X-Ray Photoelectron Spectroscopy

Allgemein
Verfahren zur Oberflächenanalytik von Festkörpern aus der Gruppe der Photoelektronenspektroskopie (PES) zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung, sodass Aufbau, Eigenschaften und Veränderungen einer Oberfläche untersucht werden können. Das Messprinzip nutzt den äußeren Photoeffekt, wobei durch Röntgenstrahlung Photoelektronen aus der Oberfläche ausgelöst werden. Für die Messung werden die am Analysator ankommenden Elektronen detektiert und zu einem Spektrum, das die Intensität in Abhängigkeit von der kinetischen Energie der Photoelektronen darstellt, ausgewertet. Die Intensität ist proportional der Häufigkeit des Auftretens der verschiedenen Elemente.

GEFERTEC bietet komplette Fertigungssysteme für den Metall 3D Druck im Wire-Arc-Additive-Manufacturing (WAAM) Verfahren an. GEFERTECs 3DMP® WAAM-Technologie integriert das traditionelle Metallschutzgasschweißen mit spezieller Prozessexpertise für den additiven Aufbau von Bauteilen, einem robusten Maschinensystem, einer integrativen CAM Software und einer prozessbezogenen Qualitätssicherung kombiniert. Der robuste Prozess, die hohen Aufbauraten und die einfache Handhabung von Draht als Ausgangsstoff machen das Verfahren interessant für die Fertigung mittelgroßer bis großer Bauteile. 

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